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晶硅組件的X光–工廠EL判定標(biāo)準(zhǔn)
解析
??EL的中文意思是電致發(fā)光，且單、多晶太陽(yáng)能組件可以進(jìn)行電致發(fā)光測(cè)試
（圖片僅供參考）
?問(wèn)題一：
我買的組件怎么獲取EL圖像？
組件出廠前給工廠要成品EL圖像，切記每塊組件都有EL圖片的
?問(wèn)題二：
我拿到工廠的EL圖像怎么初步判定呢？
基本原則：看看正文的基本判定要求，各個(gè)工廠對(duì)EL判定大同小異，但有略微的區(qū)別，確保無(wú)大的缺陷問(wèn)題。
問(wèn)題三：
工廠的EL圖像可能造假呢？
這個(gè)問(wèn)題很尖銳，留給大家去慢慢揣摩
問(wèn)題四：
EL圖像很重要嗎？
EL圖像可以直觀判斷組件的質(zhì)量問(wèn)題，組件的質(zhì)量除功率以外的質(zhì)量問(wèn)題，EL圖像基本可以一抹了然判定：好與不好??！
問(wèn)題五：
EL圖像用什么設(shè)備測(cè)試？可以購(gòu)買一套嗎？
這個(gè)問(wèn)題留在下期，介紹一下EL的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備，關(guān)注坎德拉，坎德拉也可以輔助大家采購(gòu)EL測(cè)試設(shè)備哦！??！
原文始發(fā)于微信公眾號(hào)（坎德拉學(xué)院）：晶硅組件的X光-工廠EL判定標(biāo)準(zhǔn)